正確檢驗(yàn)磁粉離合器中磁粉的方法

發(fā)布日期：[2012-06-13] 點(diǎn)擊率：

磁粉檢驗(yàn)方法適用于在鐵磁性材料表面或其附近探測裂紋和其它不均勻性缺陷。

本規(guī)程適用于磁軛濕粉連續(xù)磁化法技術(shù)。此法僅適用于檢出工件表面開口缺陷。

磁粉檢驗(yàn)方法是指在工件受檢區(qū)域表面施加鐵磁粉，裂紋或其它缺陷會導(dǎo)致正常磁場畸變，使表面上的磁粉形成一定圖形，這些圖形通常是探測到的缺陷特征。

磁粉檢驗(yàn)法的靈敏度以表面缺陷處為z高，并隨離表面深度的增加而迅速降低；因此，本方法僅適用于檢驗(yàn)材料或部件的表面或近表面缺陷

磁粉保留一段時(shí)間回顯示出磁線，并不是所有顯示出來的都是缺陷，因受檢表面粗燥（如在熱影響區(qū)邊緣），導(dǎo)磁發(fā)生變化等原因，會產(chǎn)生類似于缺陷的顯示。

只有被確認(rèn)為機(jī)械缺陷的顯示，且顯示的尺寸大于1/16英寸（1.6mm）時(shí)才被認(rèn)為有效顯示；

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